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原子力顯微術
鎖定
原子力顯微術（atomic force microscope）是2019年公佈的冶金學名詞。
- 中文名
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原子力顯微術
- 外文名
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atomic force microscope
- 所屬學科
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冶金學
- 公佈時間
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2019年
原子力顯微術定義
使用原子力顯微鏡的電子顯微分析技術。是掃描探針顯微術中使用最為廣泛的一種，常用於測量固體樣品表面的實空間三維形貌。分辨率一般在幾個納米，要求樣品表面的起伏小於1μm。
原子力顯微術出處
- 參考資料
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1.
原子力顯微術
．術語在線[引用日期2020-08-23]
