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半導體測試設備

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半導體測試設備是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2011年6月1日啓用。
中文名
半導體測試設備
產    地
中國
學科領域
電子與通信技術
啓用日期
2011年6月1日
所屬類別
電子測量儀器 > 大規模集成電路測試儀器 > 數模混合信號測試系統

目錄

  1. 1 技術指標
  2. 2 主要功能

半導體測試設備技術指標

100數字通路，測試向量深度64Mbit。 [1] 

半導體測試設備主要功能

芯片性能測試。 [1] 
參考資料