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半導體集成存儲器

鎖定
用半導體集成電路工藝製成的存儲數據信息的固態電子器件。簡稱半導體存儲器。它由大量相同的存儲單元和輸入、輸出電路等構成。
中文名
半導體集成存儲器
外文名
semiconductormemory
主要優點
存儲容量大、體積小
分    類
隨機只讀和串行存儲器
簡    稱
半導體存儲器

半導體集成存儲器簡介

半導體集成存儲器
semiconductormemory
每個存儲單元有兩個不同的表徵態“ 0 ”和“1”,用以存儲不同的信息 。半導體存儲器是構成計算機的重要部件。同磁性存儲器相比,半導體存儲器具有存取速度快、存儲容量大、體積小等優點,並且存儲單元陣列和主要外圍邏輯電路兼容,可製作在同一芯片上,使輸入輸出接口大為簡化。因此,在計算機高速存儲方面,半導體存儲器已全部替代過去的磁性存儲器。

半導體集成存儲器主要優點

這種存儲器的主要優點是:
①存儲單元陣列和主要外圍邏輯電路製作在同一個硅芯片上,輸出和輸入電平可以做到同片外的電路兼容和匹配。這可使計算機的運算和控制與存儲兩大部分之間的接口大為簡化;
②數據的存入和讀取速度比磁性存儲器約快三個數量級,可大大提高計算機運算速度;
③利用大容量半導體存儲器使存儲體的體積和成本大大縮小和下降。因此,在計算機高速存儲方面,半導體存儲器已全部替代了過去的磁性存儲器。用作大規模集成電路的半導體存儲器,是1970年前後開始生產的1千位動態隨機存儲器。隨着工藝技術的改進,到1984年這類產品已達到每片1兆位的存儲容量。

半導體集成存儲器分類

按功能的不同,半導體存儲器可分為隨機存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)和串行存儲器三大類。隨着半導體集成電路工藝技術的發展,半導體存儲器容量增長非常快,單片存儲容量已進入兆位級水平,如16兆動態隨機存儲器(DRAM)已商品化,64兆、256兆DRAM在研製中。

半導體集成存儲器隨機存儲器

對於任意一個地址,以相同速度高速地、隨機地讀出和寫入數據的存儲器(寫入速度和讀出速度可以不同)。存儲單元的內部結構一般是組成二維方矩陣形式,即一位一個地址的形式(如64k×1位)。但有時也有編排成便於多位輸出的形式(如8k×8位)。隨機存儲器主要用於組成計算機主存儲器等要求快速存儲的系統。
按工作方式不同,隨機存儲器又可分為靜態和動態兩類。靜態隨機存儲器的單元電路是觸發器。可規定A或B兩個晶體管中的一個導通時,代表“1”或代表“0”。觸發器只要電源足夠高,導通狀態便不會改變。因此,存入每一單元的信息,如不“強迫”改寫,只要有足夠高的電源電壓存在便不會改變,不需要任何刷新(見金屬-氧化物-半導體靜態隨機存儲器)。這種存儲器的速度快,使用方便。動態隨機存儲器的單元由一個MOS電容和一個 MOS晶體管構成,數據以電荷形式存放在電容之中,一般以無電荷代表“0”,有電荷代表“1”,反之亦可。單元中的MOS晶體管是一個開關,它控制存儲電容器中電荷的存入和取出。通常,MOS電容及與其相聯接的PN結有微弱的漏電,電荷隨時間而變少,直至漏完,存入的數據便會丟失。因此動態隨機存儲器需要每隔2~4毫秒對單元電路存儲的信息重寫一次,這稱為刷新。這種存儲器的特點是單元器件數量少,集成度高,應用最為廣泛(見金屬-氧化物-半導體動態隨機存儲器)。

半導體集成存儲器只讀存儲器

用來存儲長期固定的數據或信息,如各種函數表、字符和固定程序等。其單元只有一個二極管或三極管。一般規定,當器件接通時為“1”,斷開時為“0”,反之亦可。若在設計只讀存儲器掩模版時,就將數據編寫在掩模版圖形中,光刻時便轉移到硅芯片上。這樣製備成的稱為掩模只讀存儲器。這種存儲器裝成整機後,用户只能讀取已存入的數據,而不能再編寫數據。其優點是適合於大量生產。但是,整機在調試階段,往往需要修改只讀存儲器的內容,比較費時、費事,很不靈活(見半導體只讀存儲器)。

半導體集成存儲器串行存儲器

它的單元排列成一維結構,猶如磁帶。首尾部分的讀取時間相隔很長,因為要按順序通過整條磁帶。半導體串行存儲器中單元也是一維排列,數據按每列順序讀取,如移位寄存器和電荷耦合存儲器等。
按製造工藝技術的不同,半導體存儲器可分成MOS型存儲器和雙極型存儲器兩類。70年代以來,NMOS電路(見N溝道金屬-氧化物-半導體集成電路)和 CMOS電路 (見互補金屬-氧化物-半導體集成電路)發展最快,用這兩者都可做成極高集成度的各種半導體集成存儲器。砷化鎵半導體存儲器如1024位靜態隨機存儲器的讀取時間已達2毫秒,預計在超高速領域將有所發展。