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剖面控制測量

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剖面控制測量（profile control survey），地理學術語。
中文名
剖面控制測量
外文名
profile control survey
所屬學科
地理學
應用學科
測繪科學與技術
釋文：剖面控制測量是在剖面定線測量的基礎上，根據剖面端點和定向點，在剖面線上設置剖面控制點，以及在剖面控制點之間加密測站點的測量工作。 [1] 
參考資料