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全國半導體器件標準化技術委員會

鎖定
全國半導體器件標準化技術委員會編號TC78,由工業和信息化部籌建及進行業務指導。 [1] 
中文名
全國半導體器件標準化技術委員會
外文名
Semiconductor Devices
籌建單位
工業和信息化部
業務指導單位
工業和信息化部

全國半導體器件標準化技術委員會下設分委會

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委員會編號
委員會名稱
專業領域
成立年代
1
TC78/SC1
半導體分立器件
負責全國半導體分立器件等專業領域標準化工作
1986年
2
TC78/SC2
半導體集成電路
負責全國半導體集成電路、混合集成電路等專業領域標準化工作
1986年

全國半導體器件標準化技術委員會相關國標計劃

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計劃號
項目名稱
制修訂
計劃下達日期
項目狀態
1
20204839-T-339
集成電路 電磁抗擾度測量 第4部分:射頻功率直接注入法
制訂
2020-12-28
正在起草
2
20204841-T-339
集成電路 電磁發射測量 第4部分:傳導發射測量 1Ω/150Ω直接耦合法
制訂
2020-12-28
正在起草
3
20204840-T-339
靜電放電敏感度試驗 傳輸線脈衝 器件級
制訂
2020-12-28
正在起草
4
20204846-T-339
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第37部分:使用加速度計進行板級跌落試驗方法
制訂
2020-12-28
正在起草
5
20204847-T-339
半導體器件 機械和氣候試驗方法 第40部分:採用應變儀的板級跌落試驗方法
制訂
2020-12-28
正在起草
6
20204071-Z-339
半導體器件 分立器件 第17部分:基本和加強隔離的電磁和電容耦合器
制訂
2020-11-23
正在起草
7
20203926-T-339
集成電路 脈衝抗擾度測量 第2部分: 同步瞬態注入法
制訂
2020-11-23
正在起草
8
20204063-T-339
集成電路 電磁抗擾度測量 第2部分:輻射抗擾度測量 TEM小室和寬帶TEM小室法
制訂
2020-11-23
正在起草
9
20202503-T-339
集成電路 收發器的EMC評估 第1部分:通用條件和定義
制訂
2020-08-07
正在起草
10
20202506-T-339
集成電路電磁兼容建模 第1部分:通用建模框架
制訂
2020-08-07
正在起草
參考資料