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光電導探測器

鎖定
光電導探測器是利用半導體材料的光電導效應制作的探測器。所謂光電導效應,是指由輻射引起被照射材料電導率改變的一種物理現象。光電導探測器的各個領域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用於射線測量和探測、工業自動控制、光度計量等;在紅外波段主要用於導彈制導、紅外熱成像紅外遙感等方面。光電導體的另一應用是用它做攝像管靶面。為了避免光生載流子擴散引起圖像模糊,連續薄膜靶面都,如PbS-PbO、Sb2S3等。其他材料可採取鑲嵌靶面的方法,整個靶面由約10萬個單獨探測器組成。
中文名
光電導探測器
概    述
利用光電導效應制成的一種器件
材    料
高阻多晶材料
用    途
軍事和國民領域有廣泛用途

光電導探測器工作原理

效應的一種。當照射的光子能量hv等於或大於半導體的禁帶寬度Eg時,光子能夠將價帶中的電子激發到導帶,從而產生導電的電子、空穴對,這就是本徵光電導效應。這裏h是普朗克常數,v是光子頻率,Eg是材料的禁帶寬度(單位為電子伏)。因此,本徵光電導體的響應長波限λc為λc=hc/Eg=1.24/Eg (μm)
式中 c為光速。本徵光電導材料的長波限受禁帶寬度的限制.凡禁帶寬度或雜質離化能合適的半導體材料都具有光電效應。但是製造實用性器件還要考慮性能、工藝、價格等因素。常用的光電導探測器材料在射線和可見光波段有:CdS、CdSe、CdTe、Si、Ge等;在近紅外波段有:PbS、PbSe、InSb、Hg0.75Cd0.25Te等;在長於8微米波段有:Hg1-xCdxTe、PbxSn1-x、Te、Si摻雜、Ge摻雜等;CdS、CdSe、PbS等材料可以由多晶薄膜形式製成光電導探測器。

光電導探測器分類

可見光波段的光電導探測器
CdS、CdSe、CdTe 的響應波段都在可見光或近紅外區域,通常稱為光敏電阻。它們具有很寬的禁帶寬度(遠大於1電子伏),可以在室温下工作,因此器件結構比較簡單,一般採用半密封式的膠木外殼,前面加一透光窗口,後面引出兩根管腳作為電極。高温、高濕環境應用的光電導探測器可採用金屬全密封型結構,玻璃窗口與可伐金屬外殼熔封。
紅外波段的光電導探測器
簡介
PbS、Hg1-xCdxTe 的常用響應波段在 1~3微米、3~5微米、8~14微米三個大氣透過窗口。由於它們的禁帶寬度很窄,因此在室温下,熱激發足以使導帶中有大量的自由載流子,這就大大降低了對輻射的靈敏度。響應波長越長的光,電導體這種情況越顯著,其中1~3微米波段的探測器可以在室温工作(靈敏度略有下降)。
3~5微米波段的探測器分三種情況
①在室温下工作,但靈敏度大大下降,探測度一般只有1~7×108釐米·瓦-1·赫;②熱電致冷温度下工作(約-60℃),探測度約為109釐米·瓦-1·赫;③77K或更低温度下工作,探測度可達1010釐米·瓦-1·赫以上。8~14微米波段的探測器必須在低温下工作,因此光電導體要保持在真空杜瓦瓶中,冷卻方式有灌注液氮和用微型製冷器兩種。

光電導探測器時間常數對比

紅外探測器的時間常數比光敏電阻小得多,PbS探測器的時間常數一般為50~500微秒,HgCdTe探測器的時間常數在10-6~10-8秒量級,紅外探測器有時要探測非常微弱的輻射信號,例如10-14 瓦;輸出的電信號也非常小,因此要有專門的前置放大器