光電吸收截面指數

為了突出反映岩石的平均原子序數Z，從而更好的反映巖性，定義了一個與電子光電吸收截面r/Z成正比的參數Pe，即Pe=(Tk)(r/Z)，k是發生光電吸收時能量的特徵係數。由於光電吸收係數T和k對能量的依從關係相互抵消，所以Pe是和能量無關的參數，稱為光電吸收截面指數。

如圖《光電吸收截面指數測量裝置》所示 ^[1]  ，在一個平直的機械導軌上，順序安裝有源灌、巖樣支架、準直器、帶薄鈹窗的NaI（T1）組合探測器、各組件可自由調節。然後連接對探測器信號進行接受處理的線性放大器、微機多道譜儀而組成。

首先調整準直器使準直器孔道與源灌的射線出射孔成一直線，且與導軌平行，調整樣品架及NaI（T1）組合探測器以使經準直的伽馬射線垂直照射在樣品及探測器的中心部位，將巖樣放在裝置的巖樣架上，然後放置Am同位素源，通過由高壓供電帶薄鈹窗的NaI（T1）組合探測器、線性放大器、微機多道譜儀等組成測量系統，測量Am同位素源對應59.5Kev能量伽馬射線照射巖樣前後通量，通過理論及標樣刻度測量所確定的計算公式，計算求出巖樣的光電吸收截面指數Pe值。