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光譜測試系統
鎖定
光譜測試系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器，於2018年5月31日啓用。
- 中文名
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光譜測試系統
- 產 地
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英國
- 學科領域
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材料科學
- 啓用日期
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2018年5月31日
- 所屬類別
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物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
光譜測試系統技術指標
具有0.06nm@1200g/mm的光學分辨率以及友善的人機界面，能夠進行微區表徵且具有mapping功能。
[1]
光譜測試系統主要功能
研發集阻變存儲和發光顯示功能與一體的多功能器件。
[1]
- 參考資料
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1.
光譜測試系統
．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2021-01-18]
