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光柵掃描

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光柵掃描是被用在第一代電子束光刻(EBL)系統中,它是直接由掃描電子顯微鏡演變而來的。
中文名
光柵掃描
釋    義
是被用在第一代電子束光刻(EBL)系統中,它是直接由掃描電子顯微鏡演變而來的
光柵掃描被用在第一代電子束光刻(EBL)系統中,它是直接由掃描電子顯微鏡演變而來的。在典型的系統中,電子束首先通過一對留有間隔的板,它可使電子束偏轉而被截斷。第二對板用來在一個方向上掃描電子束。同時,承片台用機械方式在垂直於電子束掃描的方向上掃描。將需要進行掃描的面積劃分成一些廠區,其邊長從100μm到幾十個毫米。如果每一個像素都曝光,掃描軌跡就被定義為電子束走過的路程。數據被分解為位圖,它依照掃描軌跡按順序組成。為改善邊緣分辨率,典型的電子束斑的大小是最小特徵尺寸的二分之一到五分之一,並採用多路徑通過每一個曝光區。
在光柵掃描方法中,每一個像素必須被逐次掃描。這樣曝光時間幾乎與圖形無關,圖形就是通過打開和關閉快門而寫出來的 [1] 
參考資料
  • 1.    斯蒂芬A.坎貝爾.微納尺度製造工程:電子工業出版社,2011:227-228