亞毫米波測量

亞毫米波是波長介於微波和紅外波段之間的電磁波，波長約為0.03～1毫米。波長短，波導傳輸的損耗大,且對元件、器件的機械加工精度要求高，因此，亞毫米波測量很少採用微波技術中常用的波導傳輸線、元件和器件，而是沿用光學測量的方法，即準光技術。

亞毫米波功率測量是採用經典的炭鬥法進行的。這種方法的測量精度較高，但響應速度太慢。因此，通常採用熱敏材料製成的探測器，用炭鬥法校準後測量亞毫米波的功率。常用的室温探測器（如高萊探測器，熱釋電探測器和真空熱電堆等）可在室温下使用，操作簡便，但熱噪聲干擾大，測量的靈敏度較低。低温探測器（如摻雜鍺輻射計、砷化鎵光電導探測器和約瑟夫遜結探測器等）需要液氦温度的工作條件，但靈敏度高，噪聲電平比室温探測器低幾個數量級。亞毫米波波長測量用光學方法進行。用得較多的是法布里-珀羅干涉儀,它用金屬柵網反射器或有小孔耦合的全反射球面鏡代替光學干涉儀中的半透膜玻片,測量精度可達0.1%～0.01%。反射光柵法與光學測量用的光柵法相同，只是光柵的單位長度條數減少到每毫米1～10條，測量精度約 1%～2%。邁克爾遜干涉儀用聚脂薄膜作分光束器，並可配上計算機進行信息處理,測量精度較高,利用這種儀器測量是最為成熟的一種測量方法。邁克爾遜干涉儀也可用作亞毫米波波譜儀。測量亞毫米波的頻率可間接得到更精確的波長。亞毫米波頻率測量一般採用外差法,即將待測頻率為fx的亞毫米波與本振(通常是頻率為f0的毫米波振盪器)信號的n次諧波混頻,然後用數字頻率計測量經中頻放大後的頻率f1F=fx-nf0。如果對本振和高穩定晶體振盪器或原子頻標進行頻率鎖定，則測量精度可達10以上。